Vés al contingut (premeu Retorn)

Curs d'estiu: Materials i Tècniques de caracterització

Adreçat a professorat de Cicles Formatius de Grau Mitjà i Superior

Quan
22/06/2017 09:00 a 29/06/2017 14:00
Afegeix un esdeveniment al calendari
iCal

Materials i Tècniques de caracterització

Quan: del 22 de juny 2017 al 29 de juny del 2017 (25 hores) de 9:00h a 14:00h
On: Aula 2.4 – Planta 2 Edifici TR5. C. Colom, 11 (Terrassa)
A qui s’adreça: Professorat de Cicles Formatius de Grau Mitjà i Superior

Més informació(obriu en una finestra nova) Codi: 0007000012

Inscripció: Enviant un correu a ga.ice@uab.cat

Requisits de certificació: Assistència al 80% de les sessions i la valoració positiva de la persona formadora.

Descripció:
Introducció bàsica a la caracterització de materials a partir d'assaigs destructius i de no destructius.
Utilització d'equips convencionals, d'ús habitual en enginyeria.

Objectius  

  • Assajos bàsics de materials: identificació de plàstics, xoc tèrmic. Recobriments metàl·lics. Corrosió en metalls (efecte del medi, identificació de puntes febles).
  • Assajos mecànics (tracció, impacte).
  • Microscòpia electrònica i diagrames de fases.
  • Assajos no destructius.

Continguts  
Assaigs de laboratori:

  1. Identificació de materials plàstics mitjançant assaig a la flama.
  2. Determinació de xoc tèrmic en materials fràgils (ceràmics).
  3. Recobriments electroquímics.
  4.  Corrosió de materials mecànics (corrosió en medi àcid, en medi neutre i en medi alcalí; determinació de punts febles en la corrosió de materials metàl·lics; sèrie electrogalvànica).

Assaigs mecànics:

  1. assaig universal de tracció. Determinació de paràmetres i característiques (elasticitat, plasticitat, deformació, tensió, rotura, tipus de fractura, efecte de la temperatura, ...)
  2. Assaig d'impacte. Resiliència. Efecte de la temperatura, efecte de l'entalla.
    Diagrames de fases: fases, equilibris, reaccions, regla de les fases. Relació amb microestructures de materials metàl·lics i ceràmics.

Microscòpia:

  1. principis de microscòpia òptica (microscopi metal·logràfic, microscopi biològic i lupa estereoscòpica)
  2. principis de microscòpia electrònica de rastreig (SEM)
    Assaigs no destructius: tipus d'assaigs. Pràctiques d'ADN amb equip d'Ultrasons.

Formador/a  
Dámaris Gancho

Organització  
ICE de la Universitat Autònoma de Barcelona